仪器名称

场发射透射电子显微镜(TEM)

仪器型号

日本电子JEM 2100F FEI Tecnai F20/F30

生产厂家

Oxford公司

仪器简介

融合了卓越的高分辨率 STEM 和 TEM 成像， 利用智能扫描引擎、基于多个STEM 探测器的四通道合并技术，以及微分相位衬度（DPC/iDPC）成像技术，可以快速、准确的分析材料的结构、成分信息

技术参数

主要功能

检测案例

样品要求

样品要求：

1. 透射电镜能够观察粒径200nm以下的样品；

2. 对于粉末和液体样品，要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥；测试单上注明分散试剂要求；

3. 块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下；高分辨样品要求厚度在10nm以下；

4. 含磁样品(样品含有铁镍钴元素均需要算磁性样）需要在委托测试单中重点标识，需要特殊处理，否则不予测试。